Siirry suoraan sisältöön

Erikoismittaukset (5 op)

Toteutuksen tunnus: TX00CZ10-3004

Toteutuksen perustiedot


Ilmoittautumisaika
02.05.2023 - 04.09.2023
Ilmoittautuminen toteutukselle on päättynyt.
Ajoitus
01.08.2023 - 31.12.2023
Toteutus on päättynyt.
Opintopistemäärä
5 op
Lähiosuus
5 op
Toteutustapa
Lähiopetus
Yksikkö
(2019-2024) Kiinteistö- ja rakennusala
Toimipiste
Myllypurontie 1
Opetuskielet
suomi
Koulutus
Maanmittaustekniikan tutkinto-ohjelma
Opettajat
Miika Kostamo
Lasse Tuurala
Ilkka Partonen
Ryhmät
TXH20S1
Maanmittaustekniikan tutkinto-ohjelma päivä
Opintojakso
TX00CZ10

Toteutuksella on 10 opetustapahtumaa joiden yhteenlaskettu kesto on 43 t 30 min.

Aika Aihe Tila
Ke 30.08.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 06.09.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 13.09.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 27.09.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 04.10.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 11.10.2023 klo 14:15 - 17:00
(2 t 45 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ke 25.10.2023 klo 14:30 - 17:30
(3 t 0 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPA4016b Digitila
MPA4016c Digitila
Ti 12.12.2023 klo 09:00 - 17:00
(8 t 0 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPAK020 Rakennuslaboratorio
To 14.12.2023 klo 09:00 - 17:00
(8 t 0 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPAK020 Rakennuslaboratorio
Pe 15.12.2023 klo 08:00 - 16:00
(8 t 0 min)
Erikoismittaukset TX00CZ10-3004
MPAK020 Rakennuslaboratorio
Muutokset varauksiin voivat olla mahdollisia.

Tavoitteet

Vaihtuva sisältö

Sisältö

Vaihtuva sisältö

Arviointiasteikko

0-5

Arviointikriteerit, tyydyttävä (1)

Vaihtuva sisältö

Arviointikriteeri, hyväksytty/hylätty

Vaihtuva sisältö

Esitietovaatimukset

Mittaus- ja kartoitustekniikka 2

Siirry alkuun