Siirry suoraan sisältöön

Mittaus- ja kartoitustekniikka II (5 op)

Toteutuksen tunnus: TX00CZ12-3007

Toteutuksen perustiedot


Ilmoittautumisaika
06.05.2024 - 26.08.2024
Ilmoittautuminen toteutukselle on päättynyt.
Ajoitus
19.08.2024 - 15.12.2024
Toteutus on päättynyt.
Opintopistemäärä
5 op
Lähiosuus
5 op
Toteutustapa
Lähiopetus
Yksikkö
(2019-2024) Kiinteistö- ja rakennusala
Toimipiste
Myllypurontie 1
Opetuskielet
suomi
Koulutus
Maanmittaustekniikan tutkinto-ohjelma
Opettajat
Sanna Lehmusvirta
Ilkka Partonen
Ryhmät
TXH23S1
Maanmittaustekniikan tutkinto-ohjelma päivä
Opintojakso
TX00CZ12

Toteutuksella on 41 opetustapahtumaa joiden yhteenlaskettu kesto on 111 t 0 min.

Aika Aihe Tila
Ti 27.08.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 28.08.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPAK020a Rakennuslaboratorion monitoimitila
Ke 28.08.2024 klo 13:00 - 17:00
(4 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPAK020a Rakennuslaboratorion monitoimitila
Ti 03.09.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 04.09.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ke 04.09.2024 klo 13:00 - 17:00
(4 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 10.09.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 11.09.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ke 11.09.2024 klo 13:00 - 17:00
(4 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 17.09.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ti 24.09.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 25.09.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ke 25.09.2024 klo 13:00 - 17:00
(4 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 01.10.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 02.10.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ke 02.10.2024 klo 13:00 - 17:00
(4 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 08.10.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 09.10.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 22.10.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 23.10.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 23.10.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Pe 25.10.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 29.10.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 30.10.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 30.10.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5008 Digitila
Pe 01.11.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 05.11.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 06.11.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 06.11.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Pe 08.11.2024 klo 08:00 - 12:00
(4 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
Ti 12.11.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 13.11.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 13.11.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 27.11.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 27.11.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ti 03.12.2024 klo 13:30 - 16:30
(3 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TENTTI
MPA3015 Oppimistila
Ke 04.12.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 04.12.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ti 10.12.2024 klo 14:00 - 16:00
(2 t 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA6021 Oppimistila
Ke 11.12.2024 klo 10:00 - 12:00
(2 t 0 min)
rA, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Ke 11.12.2024 klo 13:00 - 15:00
(2 t 0 min)
rB, Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3007
MPA5011 Digitila
Muutokset varauksiin voivat olla mahdollisia.

Tavoitteet

Opintojakson suoritettuaan opiskelija
- ymmärtää geodeettisten runkoverkkojen hierarkian
- hallitsee käytännön geodeettiset mittaukset ja osaa arvioida niiden laatua
- osaa suunnitella ja mitata apupisteitä vapaana asemapisteenä ja jonona

Sisältö

Geodeettiset runkopisteverkot. Tuotannolliset geodeettiset mittausmenetelmät sekä niiden laadun arviointi. Käytännön geodesian yhteys paikkatietotekniikkaan ja kiinteistötekniikkaan.

Arviointiasteikko

0-5

Arviointikriteerit, tyydyttävä (1)

Opiskelija tuntee geodeettisten runkopisteverkkojen ominaisuudet.

Arviointikriteerit, hyvä (3)

Opiskelija ymmärtää laaja-alaisesti geodeettisten runkopisteverkkojen merkityksen.

Arviointikriteerit, kiitettävä (5)

Opiskelija hallitsee geodeettisten runkopisteverkkojen suunnittelun, mittaukset, laskennat, dokumentoinnit ja laadunvarmistuksen.

Arviointikriteeri, hyväksytty/hylätty

Opiskelija tuntee geodeettisten runkopisteverkkojen ominaisuudet.

Esitietovaatimukset

Mittaus- ja kartoitustekniikka I

Siirry alkuun