Skip to main content

Measurement and Mapping Techniques II (5 cr)

Code: TX00CZ12-3006

General information


Enrollment
02.05.2023 - 04.09.2023
Registration for the implementation has ended.
Timing
01.08.2023 - 31.12.2023
Implementation has ended.
Number of ECTS credits allocated
5 cr
Local portion
5 cr
Mode of delivery
On-campus
Unit
(2019-2024) School of Real Estate and Construction
Campus
Myllypurontie 1
Teaching languages
Finnish
Degree programmes
Surveying
Teachers
Ilkka Partonen
Jaakko Palmunen
Groups
TXH22S1
Maanmittaustekniikan tutkinto-ohjelma päivä
Course
TX00CZ12

Implementation has 41 reservations. Total duration of reservations is 101 h 30 min.

Time Topic Location
Tue 29.08.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Wed 30.08.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Wed 30.08.2023 time 13:00 - 17:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Tue 05.09.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Wed 13.09.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Wed 13.09.2023 time 13:00 - 17:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Thu 14.09.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 19.09.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Fri 22.09.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Fri 22.09.2023 time 13:30 - 17:00
(3 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Tue 26.09.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Wed 27.09.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Wed 27.09.2023 time 13:00 - 17:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Tue 03.10.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Wed 04.10.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Wed 04.10.2023 time 13:00 - 17:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Tue 10.10.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Wed 11.10.2023 time 08:00 - 12:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Wed 11.10.2023 time 13:00 - 17:00
(4 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
Tue 24.10.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 24.10.2023 time 14:30 - 16:30
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 26.10.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 31.10.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4012 Oppimistila
Tue 31.10.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 02.11.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 07.11.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 07.11.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 09.11.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 14.11.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 14.11.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 16.11.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 21.11.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 21.11.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 23.11.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 28.11.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 28.11.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 30.11.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 05.12.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Tue 05.12.2023 time 14:00 - 16:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Thu 07.12.2023 time 08:00 - 10:00
(2 h 0 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPA5011 Digitila
Tue 12.12.2023 time 12:30 - 14:00
(1 h 30 min)
Mittaus- ja kartoitustekniikka II TX00CZ12-3006
MPC4001 Oppimistila
Changes to reservations may be possible.

Objective

Student understands the hierarchy of geodetic ground control point networks.
Student is able to do practical geodetic measurements and is able judge their quality.
Student is able to plan and make geodetic measurements, ans student is also able to use free station point orientations and measurements.

Content

Geodetic ground control point networks. Practical geodetic measurements and their quality. Practical geodesy and its connections to geoinformatics and real estate techniques.

Evaluation scale

0-5

Assessment criteria, satisfactory (1)

Student knows the properties of geodetic ground control netwoks.

Assessment criteria, good (3)

Student will understand widely the meaning of geodetic ground control point networds.

Assessment criteria, excellent (5)

Student will be able to plan, measure, calculate, document and control the quality of geodetic ground control point networks.

Assessment criteria, approved/failed

Student knows the properties of geodetic ground control netwoks.

Qualifications

Measurement and Mapping Techniques I.

Go back to top of page